Аннотация:
При СВЧ модуляции тока накачки полупроводникового лазера (λ = 795 нм) наблюдалась осциллирующая зависимость амплитуд боковых составляющих спектра излучения от частоты и найдена связь этих осцилляций со структурой поля в резонаторе лазера и оптической толщиной дифракционной решетки резонатора.