Аннотация:
Рассмотрены вопросы прецизионных измерений параметров спектральной линии методами диодной лазерной спектроскопии. Исследована аппаратная функция диодного лазера с распределенной обратной связью (λ=1.53 мкм), состоящая из аддитивных вкладов шумов спонтанного излучения, флуктуаций частоты и интенсивности. Получена аналитическая формула спектра генерации поля диодного лазера, обусловленного флуктуациями частоты. Двумя независимыми методами (из подгонки доплеровски-уширенной линии поглощения и из нахождения интенсивности остаточного излучения и ширины линии с насыщенным поглощением) найдена спектральная плотность частотных флуктуаций g0, определяющая ширину центральной части линии генерации диодного лазера. Экспериментально определены параметры спектральной плотности флуктуаций частоты Ω и Γ, связанные с релаксационными колебаниями и определяющие крыло линии генерации диодного лазера. Контур спектральной линии был корректно восстановлен путем деконволюции аппаратной функции диодного лазера из регистрируемой линии пропускания. Обсуждена роль корреляции между шумами интенсивности и частоты диодного лазера.