RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 2018, том 48, номер 8, страницы 749–754 (Mi qe16868)

Эта публикация цитируется в 11 статьях

Воздействие лазерного излучения на вещество. Лазерная плазма

Учет аппаратной функции кристаллических спектрометров, работающих во многих порядках отражения, при диагностике лазерной плазмы по непрерывному спектру

М. А. Алхимоваab, И. Ю. Скобелевab, А. Я. Фаеновac, Д. А. Аричab, Т. А. Пикузad, С. А. Пикузab

a Объединенный институт высоких температур РАН, г. Москва
b Национальный исследовательский ядерный университет "МИФИ", г. Москва
c Open and Transdisciplinary Research Initiative, Osaka University, Japan
d Graduated School of Engineering, Osaka University, Japan

Аннотация: На примере рентгеновского спектрометра со сферически изогнутым кристаллом слюды рассмотрено, к каким диагностическим погрешностям может приводить приписывание наблюдаемого спектра тормозного излучения единственному порядку отражения. В качестве иллюстрации использован рентгеновский эмиссионный спектр плазмы, создаваемой на поверхности стальной фольги лазерными импульсами фемтосекундной длительности и релятивистской интенсивности. Показано, что в случае высокотемпературной плазмы получение адекватных результатов требует последовательного учета всех порядков отражения или дифракции диспергирующего устройства.

Ключевые слова: высокотемпературная плазма, рентгеноспектральная диагностика, кристаллический спектрометр, аппаратная функция.

Поступила в редакцию: 12.03.2018
Исправленный вариант: 20.04.2018


 Англоязычная версия: Quantum Electronics, 2018, 48:8, 749–754

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024