RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 2018, том 48, номер 8, страницы 728–732 (Mi qe16871)

Эта публикация цитируется в 1 статье

Волоконная оптика

Узкополосный волоконный отражатель на основе отражательного интерферометра с волоконной брэгговской решеткой

В. С. Терентьевa, А. А. Власовa, С. Р. Абдуллинаa, В. А. Симоновa, М. И. Скворцовab, С. А. Бабинab

a Институт автоматики и электрометрии СО РАН, г. Новосибирск
b Новосибирский государственный университет

Аннотация: Впервые продемонстрирован метод узкополосной фильтрации излучения в отраженном свете на основе отражательного интерферометра с волоконной брэгговской решеткой в качестве заднего зеркала. Отражательный интерферометр выполнен в одномодовом волокне типа SMF-28e, его переднее зеркало, в структуре которого содержится тонкая металлическая пленка, обладает асимметрией по коэффициентам отражения с разных сторон. Ширина полосы отражения экспериментального образца составляет 0.5 пм (62 МГц) на длине волны 1556 нм (добротность 3 × 106), максимальный коэффициент отражения равен 0.21, контраст – 102. Использование узкополосной ВБР вместо тонкопленочных широкополосных зеркал позволяет значительно увеличить спектральную селекцию за счет удлинения базы интерферометра.

Ключевые слова: волоконная оптика, многолучевая интерференция, отражательный интерферометр, тонкая металлическая пленка, диэлектрическое интерференционное покрытие, волоконная брэгговская решетка.

Поступила в редакцию: 09.04.2018
Исправленный вариант: 16.05.2018


 Англоязычная версия: Quantum Electronics, 2018, 48:8, 728–732

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024