Х. Шнекенбургер, В. Рихтер, М. Геллери, С. Ритц, Р. Ваз Пандольфо, Ф. Шок, Дж. фон Хазе, У. Бирк, С. Кремер, “Микроскопия с высоким разрешением клеток и тканей в глубине образца”, Квантовая электроника, 50:1 (2020), 2

Эта публикация цитируется в 8 статьях

Актуальные проблемы биофотоники

Микроскопия с высоким разрешением клеток и тканей в глубине образца

Х. Шнекенбургер^a, В. Рихтер^a, М. Геллери^b, С. Ритц^b, Р. Ваз Пандольфо^bc, Ф. Шок^de, Дж. фон Хазе^de, У. Бирк^f, С. Кремер^bde

^a Institute of Applied Research, Aalen University, Germany
^b Institute of Molecular Biology, Mainz, Germany
^c Institute of Physiology, University Medical Center of the Johannes Gutenberg University, Mainz, Germany
^d Kirchhoff Institute for Physics, University of Heidelberg
^e Institute of Pharmacy & Molecular Biotechnology, University of Heidelberg, Germany
^f Institute for Photonics and ICT, University of Applied Sciences (FHGR) Chur, Switzerland

Аннотация: Сообщается о методах, экспериментальных установках и перспективах микроскопической трехмерной визуализации в глубине образцов клеток или тканей, приводятся предварительные биофизические, а также клинически значимые примеры.

Ключевые слова: 3D микроскопия, флуоресценция, сверхвысокое разрешение, SIM, световой лист, аксиальная томография, распределенные апертуры.

Поступила в редакцию: 27.11.2019

	*Дополнительные материалы:*
		pic_6.pdf	1.3 Mb