Г. И. Грейсух, Е. Г. Ежов, А. И. Антонов, В. А. Данилов, Б. А. Усиевич, “Предельные спектральные и угловые характеристики многослойных рельефно-фазовых дифракционных микроструктур”, Квантовая электроника, 50:7 (2020), 623

Эта публикация цитируется в 3 статьях

Голографические технологии (подборка статей по материалам докладов на конференции ''HOLOEXPO 2019'')

Предельные спектральные и угловые характеристики многослойных рельефно-фазовых дифракционных микроструктур

Г. И. Грейсух^a, Е. Г. Ежов^a, А. И. Антонов^a, В. А. Данилов^b, Б. А. Усиевич^c

^a Пензенский государственный университет архитектуры и строительства
^b Научно-технологический центр уникального приборостроения РАН
^c Институт общей физики им. А.М. Прохорова РАН, г. Москва

Аннотация: Методы оценки параметров рельефно-фазовых дифракционных микроструктур (локального и интегрального Q-факторов) распространены на случай многослойных двухрельефных пилообразных микроструктур, что обеспечивает возможность выбора наилучших комбинаций оптических материалов для многослойных микроструктур при весьма незначительных затратах компьютерного времени. Предложен подход к исследованию многослойных микроструктур, основанный на совместном использовании Q-факторов и метода строгого анализа связанных волн, который позволил оценить предельные спектральные и угловые характеристики многослойных микроструктур различных типов.

Ключевые слова: дифракционный оптический элемент, многослойная рельефно-фазовая дифракционная микроструктура, дифракционная эффективность, скалярная и строгая теории дифракции.

Поступила в редакцию: 18.02.2020
Исправленный вариант: 19.03.2020