RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 2020, том 50, номер 7, страницы 636–642 (Mi qe17281)

Эта публикация цитируется в 6 статьях

Голографические технологии (подборка статей по материалам докладов на конференции ''HOLOEXPO 2019'')

Сдвиговая спекл-интерферометрия с использованием метода фазовых шагов

Г. Н. Вишняковab, А. Д. Ивановa, Г. Г. Левинa, В. Л. Минаевa

a Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений, г. Москва
b Московский государственный технический университет имени Н. Э. Баумана

Аннотация: Проведено численное моделирование процесса измерения напряженно-деформированных состояний методом сдвиговой спекл-интерферометрии с использованием метода фазовых шагов. Разработана компьютерная модель с возможностью задания ее деформации и шероховатости, в которую входит модель диффузно отражающего тест-объекта, соответствующая по характеристикам реальной мембране, а также модель спекл-интерферометра, позволяющая получать спекл-интерферограммы при различных размерах спеклов и углов между интерферирующими пучками. Реализован процесс восстановления топограммы поверхности объекта по модельным спекл-интерферограммам методом фазовых шагов. С помощью разработанных моделей получена двумерная шерограмма, представляющая собой производную от поля деформации круглой мембраны. Сопоставление результатов численного моделирования с экспериментальными данными показало, что различия (среднеквадратичные отклонения) не превышают 0.02 мкм. Также показано, что погрешность реконструкции интерферограмм методом фазовых шагов значительно возрастает при деформациях тест-объекта более 12 мкм.

Ключевые слова: спекл-интерферометрия, шерография, метод фазовых шагов, напряженно-деформированные состояния, моделирование.

Поступила в редакцию: 18.02.2020
Исправленный вариант: 29.03.2020


 Англоязычная версия: Quantum Electronics, 2020, 50:7, 636–642

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024