RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 2021, том 51, номер 5, страницы 453–458 (Mi qe17449)

Эта публикация цитируется в 2 статьях

Воздействие лазерного излучения на вещество. Лазерная плазма

Спектроскопический метод сравнения для определения температуры электронов высокотемпературной плазмы тяжелых элементов

А. П. Шевелько

Физический институт им. П. Н. Лебедева РАН, г. Москва

Аннотация: Для дальнейшего развития метода сравнения исследованы рентгеновские спектры лазерной плазмы легких (Si, S, Cl, K, Ca, Ti) и тяжелых (Mo, W) элементов. Плазма создавалась при фокусировке наносекундного лазерного излучения (λ = 0.53 мкм, EL = 5 Дж, τ =2 нс) на массивные твердотельные мишени. Спектры регистрировались с помощью двух фокусирующих кристаллических спектрометров в диапазоне длин волн λ = 2–11 Å. Проведен детальный анализ спектров Н- и Не-подобных ионов для определения зависимости температуры электронов (Те = 500–800 эВ) от энергии лазерного импульса (EL = 0.5–5 Дж). Приводятся рекомендации по измерению Те по спектрам легких элементов с максимальной точностью. С использованием метода сравнения выполнена оценка температуры электронов плазмы тяжелых элементов (Mo, W), рентгеновские спектры которых имеют сложную структуру.

Ключевые слова: диагностика высокотемпературной плазмы, рентгеновская спектроскопия, многозарядные ионы, лазерная плазма, рентгеновские спектрометры.

Поступила в редакцию: 12.03.2021


 Англоязычная версия: Quantum Electronics, 2021, 51:5, 453–458

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024