RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 2022, том 52, номер 5, страницы 469–473 (Mi qe18045)

Эта публикация цитируется в 1 статье

Воздействие лазерного излучения на вещество. Лазерная плазма

Спектроскопическая ВУФ диагностика высокотемпературной плазмы железа с использованием метода сравнения

А. П. Шевелько

Физический институт им. П. Н. Лебедева Российской академии наук, г. Москва

Аннотация: Рассмотрено развитие нового метода сравнения, используемого для оценки температуры электронов Те плазмы тяжелых элементов, а также высокотемпературной лазерной плазмы железа. Для этого при одинаковых потоках лазерного излучения на мишени исследованы две лазерные плазмы – плазма магния и плазма железа. Диагностика плазмы проводилась по рентгеновским спектрам Н- и Не-подобных ионов Mg. ВУФ спектры ионов Fe регистрировались в диапазоне длин волн 15 – 150 Å. В результате исследовано изменение структуры ВУФ спектров ионов Fe в зависимости от Те в диапазоне 100 – 400 эВ. Эти данные необходимы для диагностики плазменных источников, содержащих элемент железа.

Ключевые слова: рентгеновская и ВУФ спектроскопия и диагностика плазмы, лазерная плазма, многозарядные ионы, рентгеновские спектрометры.

Поступила в редакцию: 28.02.2022
Исправленный вариант: 29.03.2022


 Англоязычная версия: Quantum Electronics, 2022, 52:5, 469–473

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024