Аннотация:
Исследуются отражение и прохождение плоской электромагнитной волны в слоистой диэлектрической структуре с произвольным числом слоев разной толщины. В общем случае наклонного падения волны на такую структуру методом многократных отражений рассчитаны коэффициенты отражения для ТЕ- и ТМ-волн. Предложен алгоритм использования полученных формул для численных и приближенных аналитических расчетов.