Аннотация:
Изучено спонтанное излучение и оптическое усиление в эпитаксиальных слоях GaAs, легированных эрбием и кислородом и выращенных МОС-гидридным методом. Для получения высокой концентрации эрбия – до 8·1018 cм-3 – использованы оптимальные ростовые условия. Измерения методом Шакли–Лехени показали наличие оптического усиления (~45 cм-1) при сравнительно низкой интенсивности накачки (~0.1 кВт/cм2) и температуре 77 K.