Аннотация:
Исследованы поляризационные свойства диэлектрических структур с двусторонним периодическим рельефом. Кратко описан метод, позволяющий рассчитывать зависимости пропускания, отражения и потерь в диэлектрическом слое с периодическим поверхностным рельефом от толщины диэлектрического слоя, длины волны или угла падения излучения. Обнаружено с помощью численного расчета, а затем подтверждено экспериментально, что для подобных структур наблюдаются поляризационно-зависящие резкие изменения пропускания и отражения вблизи некоторых длин волны или толщин диэлектрического слоя.