Аннотация:
Представлены результаты измерения лучевой стойкости рабочих поверхностей двенадцати нелинейных кристаллов. Среди них известные нелинейные кристаллы среднего ИК диапазона CdGeAs2, ZnGeP2, AgGaSe2, GaSe, AgGaS2 и Ag3AsS3, не исследованные ранее новые смешанные кристаллы AgGaGeS4 и Cd0.35Hg0.65Ga2S4, две фазы (оранжевая и желтая) кристалла HgGa2S4, а также легированный кристалл GaSe:In. Смешанные кристаллы и две фазы кристалла HgGa2S4 прозрачны в диапазоне от 0.4 – 0.5 до 11.5 – 14.5 мкм. Измерения впервые проведены с использованием импульсного одномодового высокостабильного ТЕА СО2-лазера с длительностью импульсов излучения ~30 нс. Установлено, что лучевая стойкость новых нелинейных кристаллов AgGaGeS4, Cd0.35Hg0.65Ga2S4 и кристаллов HgGa2S4 (оранжевая и желтая фазы) в 1.5 – 2.2 раза выше, чем у известных кристаллов среднего ИК диапазона.
PACS:42.55.Px, 42.60.Jf
Поступила в редакцию: 15.05.2001 Исправленный вариант: 18.09.2001