Е. И. Липатов, А. Н. Панченко, В. Ф. Тарасенко, Дж. Шейн, М. Кришнан, “Фоточувствительность алмазного детектора к лазерному излучению в диапазоне 220 – 355 нм”, Квантовая электроника, 31:12 (2001), 1115

Эта публикация цитируется в 3 статьях

Применения лазеров и другие вопросы квантовой электроники

Фоточувствительность алмазного детектора к лазерному излучению в диапазоне 220 – 355 нм

Е. И. Липатов^a, А. Н. Панченко^a, В. Ф. Тарасенко^a, Дж. Шейн^b, М. Кришнан^b

^a Институт сильноточной электроники СО РАН, г. Томск
^b Alameda Applied Sciences Corporation, USA

Аннотация: Исследована фоточувствительность детекторов лазерного излучения на основе природного алмаза типа IIа компании AASC (США) для длин волн 222, 308, 337 и 353 нм. Определены предельные интенсивности УФ лазерного излучения, до которых обеспечивается линейный режим работы данных детекторов (0.5 – 4 МВт/см²).

PACS: 85.60.Gz

Поступила в редакцию: 13.08.2001