Корреляционно-временной анализ распространения низкокогерентного излучения в оптическом тракте с дефектами анизотропии

Исследовано распространение поляризованного низкокогерентного излучения в анизотропном одномодовом стекловолоконном световоде с дефектами анизотропии. Эти дефекты типичны для интерферометров, используемых в устройствах для оптической когерентной томографии и могут возникать в результате неточной стыковки волокон или вследствие их сдавливания. Теоретически рассмотрено возникновение паразитных пиков интерференции под влиянием неоднородностей анизотропии. Теоретически и экспериментально исследовано вычитание паразитных пиков в ортогональных поляризациях. Полученные экспериментальные данные хорошо согласуются с теоретическими оценками исследуемых эффектов. Результаты работы важны для совершенствования методов расчета интерференционных схем и методик диагностики их дефектов.