RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 2003, том 33, номер 2, страницы 183–188 (Mi qe2383)

Интерферометрия

Корреляционно-временной анализ низкокогерентных интерференционных схем с произвольным числом дефектов анизотропии в оптическом тракте

Р. В. Куранов

Институт прикладной физики РАН, г. Нижний Новгород

Аннотация: Разработана математическая модель для анализа влияния дефектов анизотропии оптического тракта на корреляционные характеристики низкокогерентного излучения, основанная на корреляционно-временном подходе. С использованием разработанного подхода проанализировано несколько интерференционных схем, имеющих практическое значение для оптической когерентной томографии (ОКТ). Приведены экспериментальные данные, демонстрирующие влияние дефектов анизотропии в тракте распространения излучения на выходной интерференционный сигнал и на качество двумерных изображений (томограмм) биообъектов, получаемых методом ОКТ.

PACS: 42.30.Wb, 87.57.Gg

Поступила в редакцию: 04.03.2003


 Англоязычная версия: Quantum Electronics, 2003, 33:2, 183–188

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024