RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 2003, том 33, номер 8, страницы 704–710 (Mi qe2482)

Эта публикация цитируется в 2 статьях

Специальный выпуск, посвященный памяти академика А.М.Прохорова

Исследование локальных характеристик волоконных брэгговских решеток методом оптической пространственной рефлектометрии

И. Г. Королев, С. А. Васильев, О. И. Медведков, Е. М. Дианов

Научный центр волоконной оптики РАН, г. Москва

Аннотация: Приведено подробное описание метода оптической пространственной рефлектометрии, предназначенного для измерения локальных пространственных характеристик волоконных брэгговских решеток показателя преломления. Экспериментально продемонстрировано, что при использовании ИК и УФ источников излучения метод обеспечивает хорошую чувствительность измерения амплитуды модуляции индуцированного показателя преломления в сердцевине волоконного световода (~10-4) и высокое пространственное разрешение (~100 мкм и менее). Рассмотрены факторы, влияющие на точность измерений, и представлены оптимальные параметры схемы измерения и ограничения метода – как технические, так и методологические. Проведен сравнительный анализ существующих в настоящее время методов исследования пространственных свойств волоконных решеток с указанием областей их применения.

PACS: 42.81.Cn, 42.40.Eq

Поступила в редакцию: 11.04.2003


 Англоязычная версия: Quantum Electronics, 2003, 33:8, 704–710

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024