RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 2003, том 33, номер 10, страницы 919–925 (Mi qe2524)

Эта публикация цитируется в 2 статьях

Волоконные световоды

Исследование динамики преобразования точечных дефектов в фосфоросиликатных световодах по наведенному показателю преломления

Ю. В. Ларионовa, А. А. Рыбалтовскийa, С. Л. Семеновa, М. А. Курзановb, А. З. Обидинb, С. К. Вартапетовb

a Научный центр волоконной оптики РАН, г. Москва
b Центр физического приборостроения Института общей физики им. А. М. Прохорова РАН, г. Троицк Московской обл.

Аннотация: Предложен метод исследования динамики преобразования дефектов в волоконных световодах под действием УФ излучения по дозной зависимости наведенного показателя преломления. С помощью этого метода исследованы процессы преобразования дефектов в фосфоросиликатном волоконном световоде с малыми потерями, насыщенном молекулярным водородом, при экспонировании его на длине волны 193 нм. Выдвинуто предположение о существовании в нем по крайней мере двух типов дефектов, ответственных за наведение показателя преломления.

PACS: 42.81.Cn, 42.25.Gy

Поступила в редакцию: 22.03.2003


 Англоязычная версия: Quantum Electronics, 2003, 33:10, 919–925

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024