Е. М. Дианов, А. А. Фролов, И. А. Буфетов, С. Л. Семенов, Ю. К. Чаморовский, Г. А. Иванов, И. Л. Воробьев, “Эффект катастрофического разрушения в микроструктурированном световоде”, Квантовая электроника, 34:1 (2004), 59

Эта публикация цитируется в 4 статьях

Световоды

Эффект катастрофического разрушения в микроструктурированном световоде

Е. М. Дианов^a, А. А. Фролов^a, И. А. Буфетов^a, С. Л. Семенов^a, Ю. К. Чаморовский^b, Г. А. Иванов^b, И. Л. Воробьев^b

^a Научный центр волоконной оптики РАН, г. Москва
^b Институт радиотехники и электроники РАН, г. Москва

Аннотация: Впервые наблюдался эффект катастрофического разрушения в микроструктурированном световоде под действием лазерного излучения. Пороговые интенсивности излучения, необходимые для его реализации в данном типе световода, на порядок выше, чем в стандартных световодах на основе кварцевого стекла.

PACS: 42.81.Cn

Поступила в редакцию: 01.07.2003