RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 2004, том 34, номер 3, страницы 294–295 (Mi qe2630)

Эта публикация цитируется в 3 статьях

Применения лазеров и другие вопросы квантовой электроники

Использование отражательных динамических решеток в исследовании пленок и поглощающих сред

Е. В. Ивакин, М. Ганджали, А. В. Суходолов, В. В. Филиппов

Институт физики им. Б. И. Степанова НАН Беларуси, г. Минск

Аннотация: Выполнены экспериментальные исследования, демонстрирующие возможность применения отражательных динамических решеток в тонком приповерхностном слое для изучения свойств твердых тел при сильном поглощении. Предложены методы измерения температуропроводности χ газа, граничащего с поверхностью, и тонкой прозрачной пленки на поглощающей поверхности. Проведены оптические измерения χ пленки пористого кремния на подложке.

PACS: 42.40.Eq, 78.20.Hp

Поступила в редакцию: 07.08.2003


 Англоязычная версия: Quantum Electronics, 2004, 34:3, 294–298

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024