RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 2004, том 34, номер 9, страницы 860–864 (Mi qe2882)

Эта публикация цитируется в 4 статьях

Применения лазеров и другие вопросы квантовой электроники

Лазерная очистка ультрадисперсного алмаза в водном растворе

С. И. Долгаевa, Н. А. Кириченкоa, Л. А. Кулевскийb, Е. Н. Лубнинa, А. В. Симакинa, Г. А. Шафеевa

a Научный центр волновых исследований Института общей физики им. А. М. Прохорова РАН, г. Москва
b Институт общей физики им. А.М. Прохорова РАН, г. Москва

Аннотация: Исследовано воздействие импульсного излучения гольмиевого лазера (YSGG:Cr3+:Yb3+:Ho3+, длина волны λ = 2.92 мкм, длительность импульса τ = 130 нс) и лазера на парах меди (λ = 510 нм, τ = 20 нс) на водную суспензию ультрадисперсного алмаза. Методами рентгеноэлектронной спектроскопии и спектроскопии характеристических потерь энергии электронов установлено, что после облучения суспензии гольмиевым лазером в ней уменьшается содержание примесного неалмазного углерода. Этот процесс обусловлен его растворением в сверхкритическом водном растворе, возникающем при поглощении излучения. Растворение неалмазной фракции может служить индикатором нахождения раствора в закритическом состоянии при лазерном облучении жидкостей. Расcмотренный процесс может использоваться как эффективный метод очистки ультрадисперсных алмазов.

PACS: 81.05.Uw, 81.07.Bc, 82.70.-y, 42.55.-f

Поступила в редакцию: 25.12.2003
Исправленный вариант: 07.07.2004


 Англоязычная версия: Quantum Electronics, 2004, 34:9, 860–864

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024