Аннотация:
Анализируются области устойчивости высокоэнергетических моноимпульсных микро- и миллисекундных лазеров при квазинепрерывной накачке и электрооптической отрицательной обратной связи (ООС)
в приближении безынерционной ООС и с учетом интегрирования в ее цепи. Исследуется паразитная
фоторефракция в кристаллах DKDP, являющаяся дополнительным и очень эффективным фактором
возбуждения в них пичковой генерации. Фоторефракция учтена в линейном приближении и характеризуется порогом по мощности генерации в лазере. Определены параметры цепи ООС, полностью нейтрализующие фоторефракцию при высокой мощности (энергии) моноимпульсной генерации. Показано,
что полученные результаты можно использовать для создания автоматизированных высокоэнергетичных моноимпульсных лазеров с программируемыми параметрами импульсов генерации.