RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 1993, том 20, номер 11, страницы 1121–1126 (Mi qe3237)

Эта публикация цитируется в 5 статьях

Воздействие лазерного излучения на вещество. Лазерная плазма

Исследования сжатия полых газовых оболочек на микросекундном плазменном генераторе рентгеновского излучения

А. Бартникa, Г. В. Иваненковb, Л. Карпинскиa, С. А. Пикузb, Т. А. Шелковенкоb

a Институт физики плазмы и лазерного микросинтеза, Варшава, Польша
b Физический институт им. П. Н. Лебедева АН РФ, г. Москва

Аннотация: Приведены результаты экспериментов с электрическими разрядами через полые газовые оболочки на микросекундном плазменном генераторе рентгеновского излучения (200 кА, 40 кВ, 1.5 мкс, смесь Ne–Ar). Использовался диагностический комплекс, позволивший вести наблюдения с временным и пространственным разрешением в видимом диапазоне с помощью стрик-камеры и кадровой камеры, в ВУФ диапазоне – с помощью спектрографа с прозрачной решеткой и вакуумного рентгеновского диода, в диапазоне мягкого рентгеновского излучения – с помощью кристаллического спектрографа с выпуклым и сферически изогнутым кристаллами, кристаллического рентгеновского микроскопа, камер-обскур, pin- диодов. Диапазон регистрации 0.3 –1.5 нм содержал линии He- и Н-подобного Ne и He-подобного Ar, служившие для получения рентгеноспектральных оценок электронных температур и плотностей плазмы горячих точек. Эти оценки лежат в диапазонах 1 – 1.3 кэВ и (0.5–1) · 1022 см–3. В режимах с оптимальным по выходу рентгеновского излучения диаметром сопла одновременно наблюдались змейковая неустойчивость и образование горячих точек. Стабилизация «змейки» повышала выход излучения. Наблюдалось излучение плазменного столба в Kα-линиях аргона.

УДК: 621.373.826.533.952

PACS: 52.70.Kz, 52.25.Fi, 52.35.Py, 52.25.Os, 52.80.-s


 Англоязычная версия: Quantum Electronics, 1993, 23:11, 975–980

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024