Оптическая нелинейность полупроводниковых монокристаллов, сформированных в тонкопленочном диэлектрике

Сообщается об исследовании зависимости нелинейно-оптических свойств полупроводниковых микрокристаллов (технологически контролируемого размера) от способа их компоновки в тонкопленочном диэлектрике. Проводится анализ возможных причин расхождения параметров оптической нелинейности, предсказанных для квазинульмерных сред и измеренных для тонкопленочных аналогов. Показана эффективность сред, сформированных способами вакуумного напыления, для исследования физики квазинульмерных структур. Оценены возможности реализации пикосекундных оптических переключателей на основе нелинейных тонкопленочных интерферометров с квазинульмерным промежуточным слоем.