Всероссийский научно-исследовательский институт экспериментальной физики, Арзамас-16 Нижегородской обл.
Аннотация:
Приведены результаты измерений лучевой прочности зеркальных, просветляющих, поляризационных покрытий и четвертьволновых слоев из SiO2 по отношению к воздействию излучения с длиной волны λ = 1315 нм и длительностью импульсов 0,5–0,7 нс при различных геометрии воздействия и поляризации излучения. Показано, что лучевая прочность зеркальных покрытий достаточно сильно зависит от того, является покрытие входной или выходной поверхностью, тогда как для просветляющих и однослойных покрытий такая зависимость практически отсутствует. Порог разрушения поляризационных покрытий зависит от поляризации излучения. Полученные результаты объясняются в рамках механизма, связанного с преимущественной концентрацией поглощающих микронеоднородностей, инициирующих разрушение, на границе покрытия с подложкой.