Физический институт им. П. Н. Лебедева АН СССР, Москва
Аннотация:
Теоретически исследуется взаимодействие излучения с оптическими поверхностями, обладающими предельно малым рассеянием. Для сверхгладких поверхностей, обработанных методом алмазного точения, полученные результаты позволяют единообразно описать рассеяние в широком спектральном диапазоне от ИК до
рентгеновского, создать методику количественного измерения основных параметров шероховатости поверхности: структуры составляющих ее гармоник, их периодов, амплитуды, среднеквадратичной высоты и т. д. По характеру рассеяния в одном спектральном диапазоне можно предсказать параметры рассеянного излучения
в другом диапазоне спектра(λ1/λ2 = 1–104) и при других углах падения. Показана возможность обоснованного выбора технологии и основных параметров лазерных оптических элементов, что особенно важно для лазеров с малыми коэффициентами усиления.