RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 1983, том 10, номер 10, страницы 2118–2120 (Mi qe4938)

Эта публикация цитируется в 2 статьях

Краткие сообщения

Ускоренная оценка долговечности инжекционных лазеров и передающих модулей

П. Г. Елисеев, А. А. Кочетков

Физический институт им. П. Н. Лебедева АН СССР, Москва

Аннотация: Рассмотрена возможность достоверной оценки ресурсных характеристик инжекционных лазеров по результатам испытаний при повышенной температуре и выведено выражение для коэффициента ускорения испытаний в следующих предположениях: распределение исходных параметров лазеров описывается нормальным законом, распределение отказов – логарифмически-нормальным законом, влияние температуры соответствует термоактивационной зависимости. Обсуждена эффективность тренировочных испытаний для отбраковки потенциально ненадежных образцов и рассмотрена возможность нахождения информативного параметра для прогнозирования ресурса работы. Результаты применимы к ускоренной оценке долговечности передающих модулей.

УДК: 621.378.35

PACS: 42.55.Px, 42.85.Fe

Поступила в редакцию: 16.12.1982
Исправленный вариант: 22.03.1983


 Англоязычная версия: Soviet Journal of Quantum Electronics, 1983, 13:10, 1415–1417

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024