RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 1986, том 13, номер 1, страницы 11–14 (Mi qe5125)

Эта публикация цитируется в 1 статье

Сравнение различных методов измерения параметров эквивалентного ступенчатого профиля одномодовых волоконных световодов

А. В. Белов, Е. М. Дианов, С. В. Игнатьев, А. С. Курков, В. Б. Неуструев, А. В. Чиколини

Институт общей физики АН СССР, Москва

Аннотация: Проведено экспериментальное сравнение параметров эквивалентного ступенчатого профиля (ЭСП) ОВС, полученных следующими методами: по спектральной зависимости размера пятна моды, по длине волны высвечивания, ближнего и дальнего полей, интегрированием реального профиля. Показано, что наиболее приемлемым является метод определения параметров ЭСП по спектральной зависимости размера пятна моды.

УДК: 621.391.029.7

PACS: 42.81.Qb, 42.81.Dp, 42.81.Cn

Поступила в редакцию: 25.12.1985


 Англоязычная версия: Soviet Journal of Quantum Electronics, 1986, 16:1, 4–7

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024