Быстродействие бистабильных устройств на основе напыленных тонкопленочных интерферометров

Предложена методика исследования быстродействия бистабильных оптических элементов, позволяющая измерять времена переключения, определяемые только характеристиками нелинейности и слабо зависящие от геометрии эксперимента и кинетики входного излучения. По этой методике исследованы скоростные свойства бистабильных устройств на основе вакуумно напыленных тонкопленочных полупроводниковых интерферометров. Получено время выключения бистабильных систем, изготовленных на кристаллических подложках, ~500 нс.