RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 1984, том 11, номер 7, страницы 1411–1416 (Mi qe5283)

Исследование отражения ПЭВ ИК диапазона на гофрированной поверхности металла

Г. Н. Жижин, В. А. Сычугов, В. И. Силин, В. А. Яковлев

Институт спектроскопии АН СССР, Троицк, Московская обл.

Аннотация: В работе изучено влияние на коэффициент отражения R ПЭВ глубины штриха решеток, исследована зависимость R от длины волны и углов поворота решетки относительно направления распространения ПЭВ. Получено максимальное значение коэффициента отражения 52 % при глубине штриха 0,24 мкм (λ = 10,6 мкм).

УДК: 621.373.8.038.825

PACS: 78.68.+m, 42.25.Gy, 42.79.Dj, 42.25.Bs

Поступила в редакцию: 04.10.1983


 Англоязычная версия: Soviet Journal of Quantum Electronics, 1984, 14:7, 952–955

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024