Физический институт им. П. Н. Лебедева АН СССР, Москва
Аннотация:
Рассмотрены характеристики XeF- и XeCl-лазеров, стабилизированных внешним ионизатором малой мощности. Исследованы два режима работы лазеров: с накоплением отрицательных ионов и с разрядом, стабилизированным внешним ионизатором малой мощности. Исследованы временные, спектральные и энергетические характеристики данных лазеров. Показано, что в режиме накопления отрицательных ионов минимальная концентрация ионов [F–]=1011см–3, [Cl–]=1012см–3, а использование разряда, стабилизированного электронным пучком малой плотности, позволяет уменьшить плотность тока электронного пучка до ~0,1 мА/см2 в случае XeCl-лазера. Максимальный удельный энергосъем XeCl-лазера достигал 10 Дж/л.