Определение эффективного сечения вынужденного излучения ионов неодима в различных матрицах методом сброса люминесценции

Предлагается усовершенствованная методика прямого измерения эффективного сечения вынужденного излучения σ_эф для ионов неодима в различных матрицах. Устанавливается связь между сечениями, измеряемыми методами сброса люминесценции и традиционной спектроскопии. Получены значения σ_эф для ряда кристаллов и показана возможность измерения σ_эф в образцах низкого оптического качества, включая порошки.