Квантовая электроника,
1974, том 1, номер 1,страницы 203–204(Mi qe6643)
Краткие сообщения
Связь между лазерной остаточной фотоэмиссией, качеством полировки и световой прочностью поверхности прозрачного диэлектрика
И. Е. Красноцветова, С. С. Семенцов, С. П. Тибилов, И. А. Ферсман, Л. Д. Хазов
Аннотация:
Обнаружена и измерена четкая корреляция между качеством полировки прозрачного диэлектрика (стекло К8) и порогом разрушения поверхности и фототоком под действием мощного излучения лазера на Nd. Измерялся ток фотоэмиссии в вакуум, стабилизировавшийся после 8–10 лазерных импульсов.