Абсолютная квантовая гетерохромная фотометрия ИК излучения

Предлагается безэталонный метод абсолютного измерения спектральной плотности энергетической яркости излучения в диапазоне 2–5 мкм, основанный на трехчастотном параметрическом преобразовании в кристалле с квадратичной поляризуемостью. Определены перестроечные характеристики параметрических фотометров на основе кристаллов ниобата лития, йодата лития, молибдата гадолиния и KDP: спектральные зависимости углов падения измеряемого излучения, направления распространения сигнальных волн и поправки на поглощение и отражение излучения в преобразователе. Показано, что оптимальным преобразователем для измерения яркости в диапазоне 2–5 мкм является кристалл молибдата гадолиния.