Институт автоматики и электрометрии СО АН СССР, Новосибирск
Аннотация:
Обнаружено рассеяние зондирующего излучения λ = 0,63 мкм, возникающее в процессе работы XeCl-лазера. Сообщается о результатах исследований рассеяния зондирующего излучения и изменения коэффициента поглощения в УФ диапазоне, происходящих в активной среде XeCl-лазера, возбуждаемого электронным пучком с частотой повторения 0,2 Гц. Предполагается, что рассеяние вызывают микрочастицы, состоящие из молекул ХеСl2, образующихся в результате химических радиационных столкновений атомов Хе с молекулами Сl2, накапливающихся в процессе работы лазера и вызывающих поглощение на рабочей длине волны. Обсуждается влияние указанных процессов на энергетические характеристики и ресурс работы лазера.