RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 1986, том 13, номер 9, страницы 1749–1769 (Mi qe7365)

Эта публикация цитируется в 4 статьях

Причины и распределение отказов в полупроводниковых лазерах (обзор)

П. Г. Елисеев

Физический институт им. П. Н. Лебедева АН СССР, Москва

Аннотация: Обсуждены различные факторы, влияющие на надежность полупроводниковых лазеров, и дан обзор результатов по их долговечности, полученных в лабораторных ресурсных испытаниях. Технический ресурс инжекционных лазеров на основе GaAlAs/GaAs превосходит 5·104 ч и по экстраполяции высокотемпературных испытаний может составлять более 106 ч. Лазеры на основе InGaAsP/IпР характеризуются не меньшей долговечностью, и экстраполированное значение ресурса непрерывной работы достигает, по литературным данным, более 1010 ч (при 10°C). Обсуждаются форма и параметры распределений отказов и способы прогнозирования ресурса.

УДК: 621.373:826.038.825.4

PACS: 42.55.Px, 01.30.Vv, 42.60.Jf

Поступила в редакцию: 25.02.1986


 Англоязычная версия: Soviet Journal of Quantum Electronics, 1986, 16:9, 1151–1164

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024