RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 1986, том 13, номер 9, страницы 1868–1874 (Mi qe7376)

Динамика дифракционной решетки на свободных носителях заряда во внешнем электрическом поле

Ю. Ю. Вайткус, Р. В. Пранайтис, К. Ю. Ярашюнас

Вильнюсский государственный университет им. В. Капсукаса

Аннотация: Рассмотрены особенности динамики дрейфа светоиндуцированной дифракционной решетки (СИДР) на свободных носителях заряда (СНЗ) во внешнем электрическом поле во время действия импульса возбуждения. Приведены расчетные зависимости интенсивности первого дифракционного порядка от электрического поля и периода СИДР как в случае синхронного зондирования, так и в режиме самодифракции света на тонкой решетке. Акцентируется возможность определения дрейфовых постоянных плазмы СНЗ, а также применимость данной методики для исследования особенностей механизма светонаведенной нелинейности.

УДК: 621.315.592:535.34

PACS: 42.79.Dj, 52.38.Fz, 52.25.Fi, 52.35.Mw

Поступила в редакцию: 27.06.1985


 Англоязычная версия: Soviet Journal of Quantum Electronics, 1986, 16:9, 1227–1230

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024