Измерение нелинейной восприимчивости некоторых молекулярных кристаллов методом «частотных» интерференционных полос

Рассмотрена возможность измерения компонент тензора нелинейной восприимчивости наблюдением осцилляции интенсивности второй гармоники в зависимости от частоты преобразуемого сигнала. Показано, что при известной дисперсии показателей преломления можно измерять компоненты нелинейной восприимчивости с такой же точностью, как при использовании полос Мейкера. Рассматриваемый метод менее чувствителен к качеству образцов и расходимости светового пучка. Измерены компоненты тензора нелинейной восприимчивости нескольких молекулярных кристаллов.