Анализ применения объектива Шварцшильда в мягкой рентгеновской и ВУФ областях спектра. 2. Дифракционное моделирование аберраций

Проведен анализ использования объектива Шварцшильда для целей микроскопии в мягкой рентгеновской и ВУФ областях спектра (2 — 20 нм). Даны оценки влияния юстировки объектива и точности изготовления зеркал сферической формы на его разрешающую способность (функции рассеяния точки и линии, модуляционную передаточную функцию).