Исследование динамики образования возбужденных атомов, ионов и эксимерных молекул в плазме электроразрядного ХеСl-лазера

Плазма электроразрядного XeCl-лазера исследовалась методом абсорбционного зондирования импульсным перестраиваемым лазером на красителях. Длительность импульса зондирования 7 нс, полуширина линии генерации 15 пм. Система синхронизации позволяла перемещать зондирующий импульс во времени относительно разряда с точностью 3 нс. Измерены спектры поглощения для смеси Не:Хе:НСl = 550:8:1, p = 2,2 атм в области 335–610 нм и временные зависимости абсолютной концентрации Xe*, He*, Xe⁺*, Cl^– . Обсуждается динамика заселения возбужденных атомов и ионов. Методом усиления слабого сигнала измерен временной ход абсолютной концентрации эксимерных молекул XeCl*. Показано, что в начальной стадии разряда доминирующим каналом образования XeCl* является гарпунная реакция, а на последующих стадиях основной становится ион-ионная рекомбинация.