В. А. Ерошенко, Г. А. Кириллов, М. Р. Мочалов, В. И. Шемякин, В. К. Шурыгин, “Измерение ширины линии поглощения атомарного йода для оптимизации параметров йодного затвора”, Квантовая электроника, 8:9 (1981), 2013

Эта публикация цитируется в 1 статье

Краткие сообщения

Измерение ширины линии поглощения атомарного йода для оптимизации параметров йодного затвора

В. А. Ерошенко, Г. А. Кириллов, М. Р. Мочалов, В. И. Шемякин, В. К. Шурыгин

Аннотация: Приведено теоретическое обоснование оптимизации параметров йодного затвора. Экспериментально исследована зависимость ширины линии поглощения атомарного йода от давления. Константа уширения для молекулярного йода равна 3,2 МГц/мм рт. ст. в диапазоне температур 800–1000 °C.

УДК: 535.342

PACS: 42.60.By

Поступила в редакцию: 09.01.1981