RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 1996, том 23, номер 10, страницы 923–926 (Mi qe839)

Спектральные характеристики плоских многослойных амплитудных дифракционных решеток мягкого рентгеновского диапазона

Ф. Труссельa, С. Бакa, Н. Н. Колачевскийb, М. М. Митропольскийb, Е. Н. Рагозинb

a Commissariat a l'Energie Atomique, Centre d'Etudes de Limeil Valenton, Villeneuve-Saint George, France
b Физический институт им. П. Н. Лебедева РАН, г. Москва

Аннотация: С использованием широкополосного лазерно-плазменного источника мягкого рентгеновского излучения исследован ряд спектральных характеристик плоских амплитудных молибден-кремниевых многослойных дифракционных решеток (1000 и 2000 штр./мм), изготовленных методом электронно-лучевой литографии. Решетки с периодом многослойной структуры 11.5 нм изучались в схеме квазистигматического спектрографа с умеренной дисперсией как при почти нормальном падении, так и при угле падения 36°. Определена спектральная форма резонансного отражения решеток в первом и втором интерференционных порядках многослойной структуры при различных углах падения. С помощью даннных многослойных решеток получен линейчатый спектр многозарядных ионов F V,VI в диапазоне 16.0 — 18.5 нм, оценена разрешающая способность решеток.

PACS: 07.85.Fv, 32.30.Rj

Поступила в редакцию: 01.01.1996


 Англоязычная версия: Quantum Electronics, 1996, 26:10, 899–902

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024