А. Н. Гурьянов, Д. Д. Гусовский, Е. М. Дианов, Л. С. Корниенко, Е. П. Никитин, А. О. Рыбалтовский, В. Ф. Хопин, П. В. Чернов, А. С. Юшин, “Радиационно-оптическая устойчивость стеклянных волоконных световодов с малыми потерями”, Квантовая электроника, 6:6 (1979), 1310

Эта публикация цитируется в 5 статьях

Радиационно-оптическая устойчивость стеклянных волоконных световодов с малыми потерями

А. Н. Гурьянов^abc, Д. Д. Гусовский^abc, Е. М. Дианов^abc, Л. С. Корниенко^abc, Е. П. Никитин^abc, А. О. Рыбалтовский^abc, В. Ф. Хопин^abc, П. В. Чернов^abc, А. С. Юшин^abc

^a Научно-исследовательский институт ядерной физики МГУ им. М. В. Ломоносова
^b Физический институт им. П. Н. Лебедева АН СССР, Москва
^c Институт химии АН СССР, Горький

Аннотация: Исследована радиационно-оптическая устойчивость стеклянных волоконных световодов типа SiO₂:GeO₂–SiO₂ и SiO₂–SiO₂:B₂O₃. Получены спектры наведенного поглощения в диапазоне длин волн 0,45–1,75 мкм при изменении дозы γ-облучения от 10³ до 10⁸ рад. Изучена кинетика роста наведенного поглощения световодов во время γ-облучения и кинетика спада наведенного поглощения по окончании облучения.

УДК: 535.8.666.189.2.666.11:621.039.533

PACS: 42.80.Mv, 61.80.Ed

Поступила в редакцию: 22.02.1979