RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 1979, том 6, номер 11, страницы 2471–2473 (Mi qe9765)

Краткие сообщения

Голографическая интерферометрия диффузно отражающих объектов при изменении микрорельефа поверхности

Э. Г. Семенов, Ю. И. Филенко

Всесоюзный научно-исследовательский институт оптико-физических измерений, Москва

Аннотация: Предлагается метод и устройство голографической интерференционной регистрации деформаций объекта для случая, когда происходит изменение микрорельефа его поверхности. При использовании лазерного освещения объекта в видимом диапазоне метод позволяет проводить интерференционное сравнение двух состояний объекта на некоторой регулируемой эквивалентной длине волны, большей по сравнению с изменениями микрорельефа поверхности, но меньшей, чем деформации объекта. Приводятся схема и результаты эксперимента.

УДК: 535.41.06

PACS: 07.60.Ly, 42.40.My, 68.30.+z

Поступила в редакцию: 18.05.1979


 Англоязычная версия: Soviet Journal of Quantum Electronics, 1979, 9:11, 1462–1463


© МИАН, 2024