RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 1997, том 24, номер 7, страницы 609–612 (Mi qe997)

Эта публикация цитируется в 2 статьях

Воздействие лазерного излучения на вещество. Лазерная плазма

Регистрация лазерного разрушения поверхности материалов и покрытий с помощью индуцированного газового разряда

В. А. Астапенкоa, О. Е. Сидорюкb

a Московский физико-технический институт (государственный университет), г. Долгопрудный, Московская обл.
b Научно-исследовательский институт "Полюс" им. М. Ф. Стельмаха, г. Москва

Аннотация: Рассмотрен способ регистрации лазерного разрушения поверхности оптических материалов и покрытий с помощью газового разряда, индуцированного продуктами лазерного эрозионного факела. Показано, что при соответствующем выборе параметров регистрирующей системы возможно ее применение для исследования поверхностного лазерного разрушения при интенсивности излучения W > 130 МВт/см2 (λ = 1.06 мкм, tр = 10 нс). Особенность электрического отклика, состоящая в том, что результат определяется лишь фактом разрушения образца, а не его типом или порогом лазерного разрушения, делает удобным применение метода в автоматических установках регистрации разрушения при статистических исследованиях.

PACS: 61.80.Ba, 52.80.Mg, 68.35.Bs

Поступила в редакцию: 25.11.1996


 Англоязычная версия: Quantum Electronics, 1997, 27:7, 592–595

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024