RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Успехи химии // Архив

Усп. хим., 1995, том 64, выпуск 8, страницы 818–833 (Mi rcr1250)

Эта публикация цитируется в 43 статьях

Сканирующая туннельная и атомно-силовая микроскопия в электрохимии поверхности

А. И. Данилов

Институт физической химии РАН, г. Москва

Аннотация: Рассмотрены теоретические основы, принцип действия, конструктивные особенности и последние достижения сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии in situ применительно к электрохимическим исследованиям поверхности металлических электродов, процессов адсорбции и электрокристаллизации. Библиография - 172 ссылки.

УДК: 541.138

Поступила в редакцию: 14.03.1995

DOI: 10.1070/RC1995v064n08ABEH000174


 Англоязычная версия: Russian Chemical Reviews, 1995, 64:8, 767–781

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024