В. Г. Цирельсон, Ю. З. Нозик, В. С. Урусов, “Дифракционные методы исследования электронной плотности и динамики решетки кристаллов”, Усп. хим., 55:4 (1986), 608

Эта публикация цитируется в 2 статьях

Дифракционные методы исследования электронной плотности и динамики решетки кристаллов

В. Г. Цирельсон^a, Ю. З. Нозик^a, В. С. Урусов^b

^a Московский химико-технологический институт им. Д. И. Менделеева
^b Институт геохимии и аналитической химии им. В. И. Вернадского АН СССР

Аннотация: Изложены прецизионные дифракционные методы исследования электронной плотности, электростатического потенциала и динамики решетки кристаллов. Обсуждены получаемые с их помощью данные о тонких деталях химической связи в различных классах соединений. Рассмотрены формы представления и интерпретация данных по распределению электронной плотности и электростатического потенциала в кристаллах.
Библиография – 96 ссылок.

УДК: 538.736

DOI: 10.1070/RC1986v055n04ABEH003192