RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Успехи химии // Архив

Усп. хим., 2016, том 85, выпуск 4, страницы 427–444 (Mi rcr4103)

Эта публикация цитируется в 13 статьях

Масс-спектральные методы прямого элементного и изотопного анализа твердотельных материалов

А. А. Ганеевab, А. Р. Губальa, С. В. Потаповb, Н. Н. Агафоноваa, В. М. Немецa

a Санкт-Петербургский государственный университет
b ООО "Люмасс", г. Санкт-Петербург

Аннотация: Методы прямого анализа твердых веществ имеют ряд неоспоримых преимуществ перед методами, требующими предварительного растворения пробы. Прямые масс-спектральные методы наиболее востребованы в силу высокой чувствительности и селективности. В обзоре рассмотрены методы искровой масс-спектрометрии, масс-спектрометрии с лазерной ионизацией, масс-спектрометрии с лазерной абляцией и индуктивно связанной плазмой, масс-спектрометрии вторичных ионов и вторичных нейтралей, масс-спектрометрии тлеющего разряда. Описаны принципы действия этих методов, приведены их аналитические характеристики и обсуждены тенденции развития. Особое внимание уделено областям применения перечисленных методов, отмечены их конкурентные преимущества и недостатки.
Библиография — 123 ссылки.

Поступила в редакцию: 18.09.2014

DOI: 10.1070/RCR4504


 Англоязычная версия: Russian Chemical Reviews, 2016, 85:4, 427–444

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024