RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Успехи химии // Архив

Усп. хим., 2022, том 91, выпуск 9, страницы 1–39 (Mi rcr4401)

Эта публикация цитируется в 15 статьях

Материалы фазовой памяти и их применение

С. А. Козюхинa, П. И. Лазаренкоb, А. И. Поповc, И. Л. Еременкоa

a Институт общей и неорганической химии им. Н. С. Курнакова РАН, г. Москва
b Национальный исследовательский университет "МИЭТ"
c Национальный исследовательский университет «Московский энергетический институт»

Аннотация: В последние 30 лет наблюдается стремительный рост исследований материалов фазовой памяти на основе халькогенидных полупроводников — от лабораторных разработок до широкого применения в качестве функциональных слоев в различных устройствах. Прежде всего это касается соединений системы Ge–Sb–Te, что с полным основанием позволяет считать их функциональными материалами. В обзоре представлен современный взгляд на проблему управления свойствами материалов фазовой памяти путем их химического и структурного модифицирования. Освещены как существующие, так и перспективные области применения данных материалов. При рассмотрении химического модифицирования основное внимание уделено таким распространенным примесям, как висмут, олово, кислород, азот, а также добавкам тугоплавких металлов. При обсуждении структурного модифицирования подробно рассмотрено применение лазерного излучения. В настоящее время это одно из основных направлений решения проблемы повышения быстродействия устройств на основе материалов фазовой памяти. Проанализированы результаты исследований эффекта формирования в таких материалах периодических поверхностных структур, и подчеркнуто, что данный эффект уже в ближайшем будущем может найти применение в нанофотонике и оптоэлектронике.
Библиография — 366 ссылок.

Ключевые слова: фазовая память, материалы системы Ge-Sb-Te, халькогенидные стеклообразные полупроводники, фазовый переход, примесные элементы, модификации структуры, лазерное облучение.

Поступила в редакцию: 15.07.2021

DOI: 10.1070/RCR5033


 Англоязычная версия: Russian Chemical Reviews, 2022, 91:9, 1–38

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024