RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Успехи химии // Архив

Усп. хим., 2014, том 83, выпуск 1, страницы 13–37 (Mi rcr680)

Эта публикация цитируется в 10 статьях

Рентгеновская фотоэлектронная дифракция и фотоэлектронная голография как методы исследования локальной атомной структуры поверхности твердых тел

М. В. Кузнецов, И. И. Огородников, А. С. Ворох

Институт химии твердого тела УрО РАН, г. Екатеринбург

Аннотация: Рассмотрены теоретические и экспериментальные аспекты рентгеновской фотоэлектронной дифракции и фотоэлектронной голографии — динамично развивающихся методов, ориентированных на изучение атомной структуры поверхности твердых тел, в том числе наноструктур, которые формируются на поверхности в ходе адсорбции газов, эпитаксиального роста пленок и т.д. Показано, что глубина анализа этими методами составляет единицы нанометров; это позволяет характеризовать позиции атомов, расположенных как на поверхности, так и под ней. Отмечена чувствительность методов к сорту исследуемых атомов, а в случае высокого энергетического разрешения — к выделенным химическим формам изучаемых элементов. Проанализирован и обобщен накопленный экспериментальный материал по применению рассматриваемых методов к исследованию различных поверхностных структур.
Библиография — 122 ссылки.

Поступила в редакцию: 15.04.2013

DOI: 10.1070/RC2014v083n01ABEH004400


 Англоязычная версия: Russian Chemical Reviews, 2014, 83:1, 13–37

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024